MicroLED测量系统

面向高分辨率显示的测量解决方案

LumiTop成像测量系统结合CAS光谱辐射计，可实现像素级光学测量，适用于晶圆、模组及整机测试。系统支持对亮度、颜色及均匀性进行空间分布分析，并可用于缺陷检测、demura校正及性能评估。测量参数包括色度（x,y,u'v'）、主导波长等关键指标，满足从研发验证到量产质量控制的应用需求。所有测量结果均可溯源至国际标准（PTB / NIST），确保数据的准确性与一致性。

测量原理

通过将成像色度计与光谱辐射计相结合，LumiTop 系统在保持高空间分辨率的同时，实现可靠的颜色与亮度测量。系统支持快速数据采集与自动化测试流程，有助于提升测试效率并简化生产流程。适用于MicroLED等新型显示技术中对高精度与高一致性要求的测量任务。

主要规格

LumiTop X150：
• 高分辨率成像：151 MP（14192 × 10640 pixels）
• 像素位移可扩展至约 6 亿像素（RGB 图像）
• 子像素级测量，分辨率最高可达约 0.35 µm/pixel（取决于配置）
• 适用于 MicroLED / OLED 高分辨率显示的精细质量控制

LumiTop 5300
• 成像分辨率：24 MP（5312 × 4600 pixels）
• 像素尺寸：2.74 µm
• 测量范围：0.06 – 800,000 cd/m²（高动态范围）
• 支持晶圆级与微显示测试，适用于生产环境中的快速检测适